Caracterização química de SRM de argilas por fluorescência de raios X – comparação de resultados de diferentes laboratórios.

Fábio Luiz Melquiades, Fábio Lopes, Susana Martínez Stagnaro, Mônica Rueda, Paulo Sérgio Parreira, Carlos Roberto Appoloni

Resumo


Foram comparados dois equipamentos de Fluorescência de Raios X por Dispersão em Energia (EDXRF) de modo a verificar sua performance na caracterização de argilas e potenciais aplicações em estudos nos campos de arqueometria e na industria. Dois materiais de referencia padrão (standard reference materials – SRM) de argilas, IPT-42 e IPT-51 e uma amostra de intercomparação da IAEA foram analisados por duas metodologias e equipamentos diferentes. O laboratório do Asentamiento Universitario Zapala possui um equipamento de bancada Shimadzu EDX-800HS e quantificou 13 elementos nos padrões, do S ao Zr. O Laboratório de Física Nuclear Aplicada tem um sistema portátil de EDXRF, possibilitando quantificar K, Ti e Fe e identificar qualitativamente Mn, Rb, Zn e Zr.


Palavras-chave


Fluorescência de raios X; Portátil; Argila; Solo.

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