Políticas da Conferência

Processo de Avaliação pelos Pares

AVALIAÇÃO DOS TRABALHOS:

Os trabalhos recebidos serão analisados por avaliadores ad-hoc sob a forma de avaliação anônima (blind review), em que serão observados os seguintes aspectos:
- Pertinência do trabalho ao tema do evento e ao subtema/eixo temático indicado no trabalho;
- Relevância do problema, do objeto e dos objetivos;
- Pertinência e adequação das opções teóricas e metodológicas;
- Coerência e profundidade da discussão científica;
- Clareza e objetividade da apresentação dos resultados;
- Observância às normas e padrões de formatação e normalização estabelecidos;
- Relevância significativa para a Ciência da Informação.

 

Política de Acesso às Edições Anteriores

As apresentações que compõem as conferências atual e anteriores neste site são de acesso livre e estão disponíveis para leitura gratuitamente, em benefício de autores e leitores interessados.

 

Tema da Edição

O Seminário em Ciência da Informação (SECIN) é realizado bienalmente pelo Departamento de Ciência da Informação (CIN) e peloPrograma de Pós-Graduação em Ciência da Informação (PPGCI) daUniversidade Estadual de Londrina (UEL). No entanto, excepcionalmente, a edição prevista para 2015, foi transferida para 2016, tendo em vista a greve da UEL. Esta é a sexta edição do evento que a cada nova edição amplia-se tanto em número de participantes, quanto em número de trabalhos submetidos e apresentados. O SECIN consiste de um foro privilegiado para apresentação e para discussão da pesquisa científica em Ciência da Informação, congregando pesquisadores, profissionais e estudantes, visando promover a discussão de temáticas de interesse da área.

O VI SECIN será realizado de 3 a 5 de agosto de 2016, e terá como tema os "Fenômenos Emergentes da Ciência da Informação". O evento busca oferecer oportunidades para reflexão acerca das mudanças que impactam na interação humana com a informação, bem como suas implicações para o futuro da Ciência da Informação.

 

ISBN

Anais do VI SECIN - ISBN: 978-85-7846-383-0